PDFN 轉塔式 AOI 設備
產(chǎn)品介紹
適用于：半導體IC外觀檢測
檢測精度：0.05mm
特點：
- 可檢測產(chǎn)品6個不同面
- 可檢測IC不良多達30種（可依客戶需求開發(fā)）
- 可兼容IC大小從8mm到40mm
- 高速轉塔快速分料
- 料管重力式上下料
UPH： 18000
檢測準確率：> 99%
檢測項目：
塑料體類缺陷（毛邊、殘膠、崩裂、刮傷）
引腳類缺陷（裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長短腳、偏移…）
- 散熱片缺陷（鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷）
- 印記缺陷